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  • BeamOn U3-EWinCamD-LCM-TEL 相機(jī)型光斑分析儀 (1480-1605nm)

    WinCamD-LCM-TEL 相機(jī)型光斑分析儀 (1480-1605nm)

    更新時(shí)間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號(hào):BeamOn U3-E
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  • BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 1480-1605nm

    BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 1480-1605nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測量 M²

    更新時(shí)間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號(hào):
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  • BladeCam2-HR-1310CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測量 M²

    更新時(shí)間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號(hào):BladeCam2-HR-1310
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  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測量 M²

    更新時(shí)間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號(hào):BeamOn U3-E
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  • Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機(jī)

    Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機(jī) 主要優(yōu)勢 快速連續(xù)拍攝多張照片 圖像再現(xiàn)性高 無需打開相機(jī)即可加載濾鏡,節(jié)省時(shí)間 可靠且堅(jiān)固 可根據(jù)您的具體要求進(jìn)行定制 低暗電流確保在弱光條件下獲得最高質(zhì)量的圖像。

    更新時(shí)間:2024-12-08
    產(chǎn)品型號(hào):
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