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  • FS70L4 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡(顯微OCT掃頻測(cè)振)
    FS70L4 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡(顯微OCT掃頻測(cè)振)

    FS70L4 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡(顯微OCT掃頻測(cè)振) 特點(diǎn) 采用Mitutoyo遠(yuǎn)場(chǎng)校正鏡頭 三端輸出設(shè)計(jì)可輕松接收視頻 轉(zhuǎn)盤可接最多四個(gè)物鏡

    更新時(shí)間:2024-12-09型號(hào):訪問量:387
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  • 基于激光GHz聲波振動(dòng)觀測(cè)系統(tǒng) 500MHz ~ 6GHz
    基于激光GHz聲波振動(dòng)觀測(cè)系統(tǒng) 500MHz ~ 6GHz

    筱曉(上海)光子技術(shù)有限公司是一家被上海市評(píng)為高新技術(shù)企業(yè)的專業(yè)光學(xué)服務(wù)公司,業(yè)務(wù)涵蓋設(shè)備代理以及項(xiàng)目合作研發(fā),建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光學(xué)實(shí)驗(yàn)室,為國(guó)內(nèi)外客戶提供專業(yè)技術(shù)支持服務(wù) 基于激光GHz聲波振動(dòng)觀測(cè)系統(tǒng) 500MHz ~ 6GHz

    更新時(shí)間:2024-12-08型號(hào):訪問量:797
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  • 用于晶圓的縱向克爾效應(yīng)量測(cè)系統(tǒng) BH-618SK
    用于晶圓的縱向克爾效應(yīng)量測(cè)系統(tǒng) BH-618SK

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  • 用于晶圓的極向克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) BH-810CPC25
    用于晶圓的極向克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) BH-810CPC25

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  • 垂直磁各向異性評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-R810
    垂直磁各向異性評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-R810

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  • 熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAMR/TAMR評(píng)估系統(tǒng)
    熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAMR/TAMR評(píng)估系統(tǒng)

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  • 極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計(jì)量學(xué) 無損亞納米級(jí)次表面成像) (顯微OCT
    極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計(jì)量學(xué) 無損亞納米級(jí)次表面成像) (顯微OCT

    極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計(jì)量學(xué) 無損亞納米級(jí)次表面成像) (顯微OCT掃頻測(cè)振) 產(chǎn)品總覽 三維無損成像技術(shù)在材料科學(xué)和醫(yī)學(xué)等許多應(yīng)用領(lǐng)域都非常重要。我們開發(fā)了一種成像技術(shù),利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如,我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結(jié)構(gòu)。

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  • 軟磁層評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-618HS-P20
    軟磁層評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-618HS-P20

    筱曉(上海)光子技術(shù)有限公司是一家被上海市評(píng)為高新技術(shù)企業(yè)的專業(yè)光學(xué)服務(wù)公司,業(yè)務(wù)涵蓋設(shè)備代理以及項(xiàng)目合作研發(fā),建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光學(xué)實(shí)驗(yàn)室,為國(guó)內(nèi)外客戶提供專業(yè)技術(shù)支持服務(wù) 軟磁層評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-618HS-P20

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