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BeamOn VIS-NIR 光束質(zhì)量分析儀 ( 350-1310nm) 產(chǎn)品總覽 BeamOn 是光束診斷測(cè)量系統(tǒng)，用于實(shí)時(shí)測(cè)量連續(xù)或脈沖激光光束，可測(cè)量激光光束參數(shù)，包括強(qiáng)度輪廓、光束寬度、形狀、位置、功率。
S-WCD-QD-1550-L 量子點(diǎn)短波紅外相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀 400-1700nm
WinCamD-LCM-TEL 相機(jī)型光斑分析儀 (1480-1605nm)
BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 1480-1605nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²
BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²
BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產(chǎn)品總覽 BeamOn U3是一種光束測(cè)量系統(tǒng)是一種光束測(cè)量系統(tǒng)，用于實(shí)時(shí)測(cè)量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統(tǒng)是用于連續(xù)或脈沖激光束實(shí)時(shí)測(cè)量的光束診斷測(cè)量系統(tǒng)。
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機(jī)型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm 應(yīng)用領(lǐng)域 連續(xù)和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄
